Banca de TCC – Eduardo Franklin Model

UNIVERSIDADE FEDERAL DE PELOTAS
CENTRO DE DESENVOLVIMENTO TECNOLÓGICO
TRABALHO DE CONCLUSÃO DE CURSO

Apresentações Finais (2018/2)

Análise dos impactos de variabilidade e degradação de transistores em conversores CC-CC integrados para aplicações em IoT
por
Eduardo Franklin Model

Curso:
Engenharia de Computação

Banca:
Prof. Vinícius Valduga de Almeida Camargo (orientador(a))
Prof. Felipe de Souza Marques
Prof. Leomar Soares da Rosa Júnior

Data: 03 de dezembro de 2018

Hora: 15:30

Local: Sala 248

Resumo do Trabalho:
Com a crescente demanda de sensores integrados para as mais diversas áreas, este trabalho apresenta um estudo sobre variabilidade e degradação em transistores voltados para conversão de energia CC para CC com enfoque em Internet of Things. Conversores CC-CC integrados utilizam-se de capacitores para armazenar energia, além de ter a habilidade de regular um grande intervalo de tensões de entrada para um valor específico de saída. Os fenômenos de variabilidade e degradação cada vez mais impactam dispositivos baseados na tecnologia CMOS, alterando seus parâmetros e afastando-os das características projetadas. Neste trabalho foram avaliados diversos parâmetros relacionados com a eficiência de uma parte de um circuito boost voltado para aplicações de Internet of Things, como potência fornecida e dissipada, a sua eficiência energética, discutir os parâmetros e compará-los com medidas estatísticas extraídas pelas simulações Monte Carlo, como média, variância e desvio padrão. Observou-se que o circuíto é sensível a alterações nas características elétricas dos transistores causadas pela degradação, mas que dependendo do projeto esta sensibilidade pode mudar, inclusive de sinal.