Tese da Computação é premiada no IEEE Latin-American Test Symposium
A tese de doutorado de Rafael Budim Schvittz, desenvolvida no Programa de Pós-graduação em Computação da UFPel, venceu o concurso de teses no 21st IEEE Latin-American Test Symposium, o maior e mais importante evento na área de Teste de Circuitos Integrados na América Latina. O trabalho intitulado “Susceptibility Analysis of Logic Gates to Improve the Accuracy of Circuit Reliability Estimation”, orientado pelos professores Leomar Soares da Rosa Júnior (UFPel) e Paulo Francisco Butzen (UFRGS), concorreu com diversos trabalhos de doutorado desenvolvidos no exterior.
A banca específica de avaliação, formada por pesquisadores internacionais da Politécnico de Torino (Itália), da Universidade de Córdoba (Argentina) e da Universidade de Sonora (México), divulgou o resultado durante este mês de maio. Segundo o professor Leomar Rosa Júnior, esta é uma importante conquista para o PPGC da UFPel. “Vencer um concurso de expressão como este, em um simpósio internacional de grande visibilidade para a área de teste de circuitos integrados nos motiva a seguir em frente e continuar desenvolvendo pesquisas de ponta na universidade.”