{"id":451,"date":"2020-05-26T18:19:34","date_gmt":"2020-05-26T21:19:34","guid":{"rendered":"https:\/\/wp.ufpel.edu.br\/cdtec\/?p=451"},"modified":"2020-05-26T18:19:34","modified_gmt":"2020-05-26T21:19:34","slug":"tese-da-computacao-e-premiada-no-ieee-latin-american-test-symposium","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/wp.ufpel.edu.br\/cdtec\/arquivos\/451","title":{"rendered":"Tese da Computa\u00e7\u00e3o \u00e9 premiada no IEEE Latin-American Test Symposium"},"content":{"rendered":"

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A tese de doutorado de Rafael Budim Schvittz, desenvolvida no Programa de P\u00f3s-gradua\u00e7\u00e3o em Computa\u00e7\u00e3o da UFPel, venceu o concurso de teses no 21st IEEE Latin-American Test Symposium, o maior e mais importante evento na \u00e1rea de Teste de Circuitos Integrados na Am\u00e9rica Latina. O trabalho intitulado \u201cSusceptibility Analysis of Logic Gates to Improve the Accuracy of Circuit Reliability Estimation\u201d, orientado pelos professores Leomar Soares da Rosa J\u00fanior (UFPel) e Paulo Francisco Butzen (UFRGS), concorreu com diversos trabalhos de doutorado desenvolvidos no exterior.<\/p>\n

A banca espec\u00edfica de avalia\u00e7\u00e3o, formada por pesquisadores internacionais da Polit\u00e9cnico de Torino (It\u00e1lia), da Universidade de C\u00f3rdoba (Argentina) e da Universidade de Sonora (M\u00e9xico), divulgou o resultado durante este m\u00eas de maio. Segundo o professor Leomar Rosa J\u00fanior, esta \u00e9 uma importante conquista para o PPGC da UFPel. \u201cVencer um concurso de express\u00e3o como este, em um simp\u00f3sio internacional de grande visibilidade para a \u00e1rea de teste de circuitos integrados nos motiva a seguir em frente e continuar desenvolvendo pesquisas de ponta na universidade.\u201d<\/p>\n

O trabalho vencedor foi julgado considerando diversos quesitos, dentre eles, a capacidade de inova\u00e7\u00e3o, o n\u00edvel de maturidade, os resultados obtidos e a qualidade da apresenta\u00e7\u00e3o. O professor Paulo Butzen complementa: \u201cEste pr\u00eamio \u00e9 reflexo da qualidade na pesquisa desenvolvida. A partir dos membros avaliadores e dos crit\u00e9rios avaliados, fica claro que o trabalho desenvolvido possui alto grau de inova\u00e7\u00e3o e seus resultados tem alcance internacional. O reconhecimento tamb\u00e9m refor\u00e7a a import\u00e2ncia da experi\u00eancia interinstitucional como contribuinte para a dissemina\u00e7\u00e3o e diversifica\u00e7\u00e3o dos saberes\u201d. A tese desenvolvida na UFPel ataca um dos grandes desafios no desenvolvimento de circuitos digitais em tecnologia nanom\u00e9trica, especificamente na \u00e1rea de confiabilidade.<\/p>\n

\u201cPara lidar com os desafios da tecnologia nanom\u00e9trica dos circuitos digitais, novas metodologias de projeto s\u00e3o necess\u00e1rias de forma a aumentar a robustez destes circuitos. Devido aos custos associados com as t\u00e9cnicas de toler\u00e2ncia a falhas, solu\u00e7\u00f5es alternativas, baseadas em toler\u00e2ncia a falhas parcial e t\u00e9cnicas para ignorar as falhas est\u00e3o sendo cada vez mais exploradas para o problema da confiabilidade. Nesse contexto, uma avalia\u00e7\u00e3o precisa da confiabilidade dos circuitos \u00e9 fundamental para permitir um fluxo de projeto automatizado de avalia\u00e7\u00e3o de confiabilidade, no qual as ferramentas de s\u00edntese possam rapidamente alternar entre diversas configura\u00e7\u00f5es de circuitos para definir a melhor op\u00e7\u00e3o\u201d, explica Rafael Schvittz.<\/p>\n

Fonte: CCS\/UFPel<\/a><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

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